FİZİKSEL SEMPOZYUMLAR

Sempozyum P1:
Ara Yüzeylerin Görüntülenmesi
Koordinatör: Miran Ceh
Arayüzeylerde (katılarda tane veya faz sınırıları, yüzeyler ve ince filmler vs.) bulunan mikroyapılar malzeme biliminde çok önemli bir yere sahiptir. Bu yüzeylerin incelenmesinde yüksek çözünürülüklü görüntüleme ve analitik teknikler vazgeçilmezdir. Bu sempozyum (elektron) mikroskopi tekniklerinin arayüzey araştırmalarında kullanımına yönelik olup arayüzey kusurlarının karakterizasyonu, HAADF-STEM ve EELS kullanılarak arayüzeylereki kimyasal ve elektriksel bağlanmanın değerlendirmesi, teorik /simülasyonun deneysel ölçümler ile korelasyonu, özellikle elektronik, medikal ve akıllı malzemelerde benzer olmayan malzemelerdeki özel arayüzeylerin incelenmesi gibi konuları içermektedir. Bu sempozyum metallerin görüntülemesi ve seramiklerin görüntülemesi sempozyumları ile ilişkilidir.

Sempozyum P2:
Metallerin Görüntülenmesi, (alaşımlar ve metal matriks kompozitleri)
Koordinatör: Ali Arslan Kaya
Yeni ileri-mühendislik metalik malzemeleri ve metal matris kompozitleri; yüksek mukavemet, düşük ağırlık ve gelişmiş yorgunluk ve korozyon direnci için endüstriyel talebi karşılamak üzere geliştirmektedir.  Elektron mikroskopi tekniklerin uzaysal ve kimyasal çözünürlüğündeki son gelişmeler, son derece karmaşık gelişmiş mühendislik malzemeleri, çok fazlı nanoyapılı çelikler, plastik deformasyonlardan oluşan nanoyapılı malzemeler, mukavemet artırma amaçlı çökeltiler vs., gibi malzemeleri içeren metaller ve alaşımların yapı-özellik ilişkilerinin detaylı incelenmesine olanak tanımaktadır. Bu sempozyum, metalik alaşımlar ve metal matriks kompozitlerinde modern mikroskopik yöntemlerin uygulamalaması ve mikroyapı incelenemesini kapsamaktadır.

Sempozyum P3:
Seramiklerin Görüntülenmesi (inorganik malzemler)
Koordinatör: Servet Turan
Karbon esaslı malzemer, kompleks oksitlerin özel kompozitlerini içeren seramik ve inorganik malzemeler üstün fiziksel özellikleri sebebiyle önde gelen araştırma konularındandır. Çoğunlukla bu malzemeler tabakalı heteroyapılarda kullanılmakta olup, elektronik , akıllı yapılar ve enerji–odaklı aygıtlarda geniş kullanım alanına sahiptir. Bu sempozyum mikroskopi tekniklerinin malzeme araştırmasında kullanımına odaklanmış olup, kompleks oksit filmlerin nano ve nano altı yapılarının büyümesi ve karakterizasyonu, süperlatislerin karakterizasyonu, seramikler ve inorganik malzemelerde arayüzeyler ve tane sınırları, seramikler ve jeolojik mineraller, mineroloji ve arkeojiyi de kapsayan seramik ve inorganik malzemelerdeki yapısal ve fiziksel özellikler arasındaki ilişkinin belirlenmesi, yarıiletken malzemeler ve sistemler, dilektrik malzemeler, manyetik malzemeler ve enerji malzemeleri konularını kapsamaktadir.

Sempozyum P4:
Yumuşak Maddelerin Görüntülenmesi: Doğal ve Sentetik Organik Malzemeler 
Koordinatör: Özlem Oral
Sentetik polimerler, bipolimerler ve bunların inorganik malzemeler ile kompozitleri mikroskopi çalışmalarında  özel bir türü temsil etmektedir. Bu malzemeler milimetreden nanometre veya altı boyutlarda değişen çok geniş bir boyut aralığında yapılandırılmışlardır. Optik mikroskopi, SEM, TEM, SPM, X-ışını görüntüleme gibi çeşitli görüntüleme teknikleri, organik malzemelerin mikroskopi teknikleriyle incelenmesi, Self-assembled sistemler, yarıiletken ve bilgi teknolojisi bu sempozyumun konuları arasındadır.

Sempozyum P5:
Malzemlerdeki Sorunların Çözümüne Yönelik Mikroskopi Tekniklerinin Birlikte Kullanılması
Koordinatör: Cleva Ow-Yang
Yüksek çözünürlüklü mikroskopi, işlenmiş malzemelerin yapısı, kimyasal bileşimi ve fiziksel özelliklerin incelenmesi ve kristalin malzmelerdeki kusurlar hakkında bilgimizi genişletmek bakımından önemli rol oynamaktadır. Kristal kusurlar genellikle tek boyutta ve nano ölçekte olup, dopant ve imprüteler bireysel atomlar olarak ayrıştığından; brleişik mikroskopi teknikleri ile çok yüksek uzaysal ve kimyasal çözünürlüklere ulaşılması gerekmektedir. Mikroskopinin farklı alanlarındaki son gelişmeler sayesinde, kimyasal kusurlar artık hem atomik hem de elektronik seviyede karakterize edilmebilmekte ve hata-özellik ilişkisi daha güvenilir şekilde tespit edilmektedir. Bu sempozyum, yarıiletken, biyolojik sensör, kristalin ve amorf dielektrik malzemeler, manyetik malzeler, polimerler, proteinler, quasi-kristaller, yapay düzensiz malzemeler, nanoyapılandırılmış hiyerarşik yapılar dışınds tüm malzemelerin yüzey ve kaplamalarındaki kusurları tespit etmek için güncel mikroskopi tekniklerinin kullanılması ile ilgili çalışmaları içermektedir. 

Sempozyum P6:
Yüzey Görüntüleme
Koordinatör: Levent Demirel
Bu sempozyum, tüm yüzeylerin görüntülenmesi ve spektroskopisi için AFM, SPM, STM, Auger Microskopisi, NSOM gibi hassas tekniklerin kullanıldığı çalışmaları kapsamaktadır. Oturumlarda, bu alanlandaki mevcut gelişmeler ve son teknoloji çalışmalar paylaşılacaktır. 
 

Sempozyum P7:
Mikro/Nanofabrikasyon
Koordinatör: Cenk Yanık
Çip ve devre üretim süreçlerinde kullanılan nanofabrikasyon aygıtlarındaki gelişmeler gün geçtikçe daha önemli hale gelmektedir. Bu sempozyum, mikro ve nano yapılandırma ve NEMS, MEMS, yapay dokular, organlar için yapı iskelesi gibi nanofabrikasyon ile elde edilen yapılardaki en son gelişmeler ve ilgili çalışmalara odaklanmaktadır. 

Sempozyum P8:
Sert ve Yumuşak Yüzeylerde Spektroskopi
Koordinatör: Feray Bakan 
Sert ve Yumuşak Malzemelerin Spektroskopisi sempozyumu SEM/EDS, TEM/EDS, EELS, FTIR/Raman Spektroskopisi, Raman Haritalama, Auger Spekroskopisi and mikroskopisi ve ilgili spektroskopik teknikleri kapsayan katılımlara açıktır. Bu oturum, yeni enstrümanlar ve tekniklerin farklı alanlardaki uygulamaları ve özellikle düşük-enerji geçişleri, kantitatif bileşimsel ve kimyasal haritalama ve elde edilen verilerin malzeme özellikleri ile nasıl ilişkili olduğunu incelemelte kullanılan analitik elektron mükroskopkosinin yeni uygulamalarına ait bilimsel bulguları biraraya toplamayı hedeflemektedir.

Turkish